Leica DM2700M
Microscope droit flexible Leica DM2700 M avec un éclairage LED et toutes les méthodes de contraste : applications fond clair, fond noir, contraste interférentiel différentiel, polarisation qualitative et fluorescence.
Des grossissements de 5x à 100x, un champ de vision de 22 mm, un champ d’image aplati et de grandes distances de travail.
Produits similaires
Microscope éducatif binoculaire Evolutif pour la fluorescence, contraste de phase et polarisation pour les cours de sciences de la vie Leica
- Statif en fonte à plan stable
- Platine mobile dans le sens vertical, équipée d’un chariot pour les déplacements XY de la préparation.
- Tube binoculaire incliné à distance interpupillaire réglable 50 à 75mm.
- Paire d’oculaires 10x/20 préréglés, fixes et non démontables
- Système optique à correction infinie
- Eclairage par LED électroluminescente (nouvelle technologie en optique) d’une durée de vie de plus de 25.000 heures, et d’une illumination précentrée et homogène offrant un champ de vision parfaitement éclairé.
- Intensité lumineuse réglable
- Revolver porte-objectifs à 4 positions.
- Double réglage de mise au point : macro et micrométrique
- Condenseur d’Abbé préréglé et précentré avec repères de grossissement fixe (Réglable en hauteur pour DM750)
Microscope de laboratoire inversé à LED Leica DM IL
Leica DM1750M
Microscope droit flexible Leica DM2700 M avec éclairage LED et toutes les méthodes de contraste : applications fond clair, fond noir, contraste interférentiel différentiel, polarisation qualitative et fluorescence.
Il offre également un éclairage oblique intégré, qui améliore la visualisation de la topographie de surface et des défauts.
Equipé d'une série d'objectifs avec des grossissements de 5x à 100x, un champ de vision de 22 mm, un champ d'image aplati et de grandes distances de travail avec la possibilité d’ajouter plusieurs options selon vos besoins et vos budgets.
Leica DM3XL Le système d’inspection pour la microélectronique et les semi-conducteurs
- Augmentez votre rendement
- Détecter de manière fiable un développement insuffisant au bord ou au centre d'un wafer
- Détecter une épaisseur de film radial inégale
- Avec le DM3 XL, vous pouvez bénéficier de l'excellence optique à un prix abordable.
- Examinez les côtés, les bords ou les éclats avec un éclairage oblique : éclairez votre échantillon sous différents angles comme un moyen simple et efficace de visualiser les topographies.
- Détectez les micro-rayures ou les petites particules dans les couches inférieures de l'échantillon avec un contraste de fond noir en profondeur.
- En savoir plus sur notre gamme d'objectifs au Centre d'optique Leica.